Estudo da Interface TiN/Silício Cristalino por Espectroscopia de Electrons Fotoemitidos por Raios X (XPS)

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: VINICIUS GABRIEL ANTUNES
Data de Publicação: 2018
Tipo de documento: Tese
Título da fonte: Portal de Dados Abertos da CAPES
Texto Completo: https://sucupira.capes.gov.br/sucupira/public/consultas/coleta/trabalhoConclusao/viewTrabalhoConclusao.jsf?popup=true&id_trabalho=6400252
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