Análise dos Efeitos de Dose Total Ionizante em Transistores CMOS Tecnologia 0,35 μm

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Thiago Hanna Both
Data de Publicação: 2013
Tipo de documento: Dissertação
Título da fonte: Portal de Dados Abertos da CAPES
Texto Completo: https://sucupira.capes.gov.br/sucupira/public/consultas/coleta/trabalhoConclusao/viewTrabalhoConclusao.jsf?popup=true&id_trabalho=86353
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