Estudo do comportamento das correntes de fuga do dreno do Diamante SOI nMOSFET em altas temperaturas
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Data de Publicação: | 2012 |
Tipo de documento: | Dissertação |
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Estudo do comportamento das correntes de fuga do dreno do Diamante SOI nMOSFET em altas temperaturasTransistor de efeito de campo de metal-óxido semicondutorCentro Universitário da FEI, São Bernardo do CampoBellodi, MarcelloCarvalho, Daniel Belo de2019-03-21T12:32:12Z2019-03-21T12:32:12Z2012info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisapplication/pdfCARVALHO, Daniel Belo de. <b> Estudo do comportamento das correntes de fuga do dreno do Diamante SOI nMOSFET em altas temperaturas. </b> 2012. 119 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica) - Centro Universitário da FEI, São Bernardo do Campo, 2012 Disponível em: <http://sofia.fei.edu.br/tede/tde_busca/arquivo.php?codArquivo=274>. Acesso em: 30 out. 2012.https://repositorio.fei.edu.br/handle/FEI/662porpt_BRreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da FEIinstname:Centro Universitário da Fundação Educacional Inaciana (FEI)instacron:FEIinfo:eu-repo/semantics/openAccess2023-03-14T12:46:45Zoai:repositorio.fei.edu.br:FEI/662Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttp://sofia.fei.edu.br/pergamum/biblioteca/PRIhttp://sofia.fei.edu.br/pergamum/oai/oai2.phpcfernandes@fei.edu.bropendoar:https://repositorio.fei.edu.br/oai/request2023-03-14T12:46:45Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da FEI - Centro Universitário da Fundação Educacional Inaciana (FEI)false |
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