Estudo do comportamento das correntes de fuga do dreno do Diamante SOI nMOSFET em altas temperaturas

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Carvalho, Daniel Belo de
Data de Publicação: 2012
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: por
Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da FEI
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