Padrões de Speckles produzidos por vórtices óticos e sua aplicação na medida de rugosidade
Autor(a) principal: | |
---|---|
Data de Publicação: | 2016 |
Tipo de documento: | Dissertação |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Repositório Institucional da Universidade Federal Fluminense (RIUFF) |
Texto Completo: | https://app.uff.br/riuff/handle/1/6162 |
Resumo: | Neste trabalho fazemos uma análise dos padrões de Speckle produzidos pela iluminação diferentes superfícies rugosas com um vórtice óptico, de primeira ordem (l = ±1), feixe Laguerre-Gauss. Os padrões de Speckle gerados foram observados na direção normal explorando quatro planos diferentes: o plano de difração, plano imagem, plano focal, e o plano Transformada de Fourier exata. Os padrões de Speckle foram analisados por meio de imagens digitais utilizando o expoente de Hurst, uma ferramenta interessante utilizada para estudar a rugosidade de superfícies. Nós mostramos uma prova de princípio de que o expoente de Hurst dos padrões de Speckle é mais sensível no que diz respeito à rugosidade da superfície, quando os padrões de Speckle produzidos por um vórtice ótico é observado no plano focal. Este resultado abre campos de investigação na metrologia do Speckle uma vez que temos várias técnicas que utilizam os padrões de Speckle para diferentes aplicações em metrologia |
id |
UFF-2_8ae35da98b2e38a5d385d4aaf79f5e02 |
---|---|
oai_identifier_str |
oai:app.uff.br:1/6162 |
network_acronym_str |
UFF-2 |
network_name_str |
Repositório Institucional da Universidade Federal Fluminense (RIUFF) |
repository_id_str |
2120 |
spelling |
Padrões de Speckles produzidos por vórtices óticos e sua aplicação na medida de rugosidadeSpeckleRugosidadeAnalise de imagensVórtices óticosSpeckleRugosidadeProcessamento de imagemVórtice óticoSpeckleRoughnessImage analysisOptical vorticesNeste trabalho fazemos uma análise dos padrões de Speckle produzidos pela iluminação diferentes superfícies rugosas com um vórtice óptico, de primeira ordem (l = ±1), feixe Laguerre-Gauss. Os padrões de Speckle gerados foram observados na direção normal explorando quatro planos diferentes: o plano de difração, plano imagem, plano focal, e o plano Transformada de Fourier exata. Os padrões de Speckle foram analisados por meio de imagens digitais utilizando o expoente de Hurst, uma ferramenta interessante utilizada para estudar a rugosidade de superfícies. Nós mostramos uma prova de princípio de que o expoente de Hurst dos padrões de Speckle é mais sensível no que diz respeito à rugosidade da superfície, quando os padrões de Speckle produzidos por um vórtice ótico é observado no plano focal. Este resultado abre campos de investigação na metrologia do Speckle uma vez que temos várias técnicas que utilizam os padrões de Speckle para diferentes aplicações em metrologiaCoordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível SuperiorIn this work we make an the analysis of speckle patterns produced by illuminating different rough surfaces with an optical vortex, the first order (l = ±1), Laguerre-Gaussian beam. The generated speckle patterns were observed in the normal direction exploring four different planes:the Diffraction plane, Image plane, Focal plane, and exact Fourier Transform plane. The digital speckle patterns were analysed by using the Hurst exponent of digital images, an interesting tool used to study surface roughness. We show a proof of principle that the Hurst exponent of digital speckle pattern is more sensitive with respect to the surface roughness when the speckle pattern is produced by an optical vortex and observed at Focal plane. This result opens news fields of investigation on the speckle metrology once we have several techniques that use speckle patterns for different metrology applicationsHuguenin, José Augusto OliveiraCarvalho, Isabel Cristina dos SantosFellows, Carlos EduardoPassos, Marcello Henrique Marques2018-04-09T19:57:52Z2018-04-09T19:57:52Z2016info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisapplication/pdfhttps://app.uff.br/riuff/handle/1/6162openAccesshttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/br/CC-BY-SAinfo:eu-repo/semantics/openAccessporreponame:Repositório Institucional da Universidade Federal Fluminense (RIUFF)instname:Universidade Federal Fluminense (UFF)instacron:UFF2021-10-27T19:49:55Zoai:app.uff.br:1/6162Repositório InstitucionalPUBhttps://app.uff.br/oai/requestriuff@id.uff.bropendoar:21202024-08-19T10:52:58.562706Repositório Institucional da Universidade Federal Fluminense (RIUFF) - Universidade Federal Fluminense (UFF)false |
dc.title.none.fl_str_mv |
Padrões de Speckles produzidos por vórtices óticos e sua aplicação na medida de rugosidade |
title |
Padrões de Speckles produzidos por vórtices óticos e sua aplicação na medida de rugosidade |
spellingShingle |
Padrões de Speckles produzidos por vórtices óticos e sua aplicação na medida de rugosidade Passos, Marcello Henrique Marques Speckle Rugosidade Analise de imagens Vórtices óticos Speckle Rugosidade Processamento de imagem Vórtice ótico Speckle Roughness Image analysis Optical vortices |
title_short |
Padrões de Speckles produzidos por vórtices óticos e sua aplicação na medida de rugosidade |
title_full |
Padrões de Speckles produzidos por vórtices óticos e sua aplicação na medida de rugosidade |
title_fullStr |
Padrões de Speckles produzidos por vórtices óticos e sua aplicação na medida de rugosidade |
title_full_unstemmed |
Padrões de Speckles produzidos por vórtices óticos e sua aplicação na medida de rugosidade |
title_sort |
Padrões de Speckles produzidos por vórtices óticos e sua aplicação na medida de rugosidade |
author |
Passos, Marcello Henrique Marques |
author_facet |
Passos, Marcello Henrique Marques |
author_role |
author |
dc.contributor.none.fl_str_mv |
Huguenin, José Augusto Oliveira Carvalho, Isabel Cristina dos Santos Fellows, Carlos Eduardo |
dc.contributor.author.fl_str_mv |
Passos, Marcello Henrique Marques |
dc.subject.por.fl_str_mv |
Speckle Rugosidade Analise de imagens Vórtices óticos Speckle Rugosidade Processamento de imagem Vórtice ótico Speckle Roughness Image analysis Optical vortices |
topic |
Speckle Rugosidade Analise de imagens Vórtices óticos Speckle Rugosidade Processamento de imagem Vórtice ótico Speckle Roughness Image analysis Optical vortices |
description |
Neste trabalho fazemos uma análise dos padrões de Speckle produzidos pela iluminação diferentes superfícies rugosas com um vórtice óptico, de primeira ordem (l = ±1), feixe Laguerre-Gauss. Os padrões de Speckle gerados foram observados na direção normal explorando quatro planos diferentes: o plano de difração, plano imagem, plano focal, e o plano Transformada de Fourier exata. Os padrões de Speckle foram analisados por meio de imagens digitais utilizando o expoente de Hurst, uma ferramenta interessante utilizada para estudar a rugosidade de superfícies. Nós mostramos uma prova de princípio de que o expoente de Hurst dos padrões de Speckle é mais sensível no que diz respeito à rugosidade da superfície, quando os padrões de Speckle produzidos por um vórtice ótico é observado no plano focal. Este resultado abre campos de investigação na metrologia do Speckle uma vez que temos várias técnicas que utilizam os padrões de Speckle para diferentes aplicações em metrologia |
publishDate |
2016 |
dc.date.none.fl_str_mv |
2016 2018-04-09T19:57:52Z 2018-04-09T19:57:52Z |
dc.type.status.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/masterThesis |
format |
masterThesis |
status_str |
publishedVersion |
dc.identifier.uri.fl_str_mv |
https://app.uff.br/riuff/handle/1/6162 |
url |
https://app.uff.br/riuff/handle/1/6162 |
dc.language.iso.fl_str_mv |
por |
language |
por |
dc.rights.driver.fl_str_mv |
openAccess http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/br/ CC-BY-SA info:eu-repo/semantics/openAccess |
rights_invalid_str_mv |
openAccess http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/br/ CC-BY-SA |
eu_rights_str_mv |
openAccess |
dc.format.none.fl_str_mv |
application/pdf |
dc.source.none.fl_str_mv |
reponame:Repositório Institucional da Universidade Federal Fluminense (RIUFF) instname:Universidade Federal Fluminense (UFF) instacron:UFF |
instname_str |
Universidade Federal Fluminense (UFF) |
instacron_str |
UFF |
institution |
UFF |
reponame_str |
Repositório Institucional da Universidade Federal Fluminense (RIUFF) |
collection |
Repositório Institucional da Universidade Federal Fluminense (RIUFF) |
repository.name.fl_str_mv |
Repositório Institucional da Universidade Federal Fluminense (RIUFF) - Universidade Federal Fluminense (UFF) |
repository.mail.fl_str_mv |
riuff@id.uff.br |
_version_ |
1811823597622132736 |