Predição de tempo de vida restante em sistemas integrados digitais considerando condições ambientais dinâmicas

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Pedro Fausto Rodrigues Leite Junior
Data de Publicação: 2017
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UFMG
Texto Completo: http://hdl.handle.net/1843/51446
Resumo: The study of integrated circuits reliability has become of sudden importance to the understanding, detection and correction of their failures. Compreending how or under which conditions this aging becomes harmful to a system enable decisions to mitigate or prevent these conditions. This work establishes a flow for analysis and simulation of integrated systems that allows us to understand the aging of it in different conditions. In addition, it allows us to extract and analyze data that are relevant to predict their failure and also serve as input to verification, evaluation and fault-tolerance systems using machine learning techniques. The developed methodology allows the integration of offline and online data collection techniques to update estimation methods, as well as allowing new ones to be added. This work uses three different methods to predict the Mean Time To Failure and the Remaining Useful Lifetime for test circuits. The MTTF is estimated for each of them using a Generalized Linear Model (specifically a Partial Least Squares Regression), Euclidean Distance and Pearson’s Correlation as prediction methods. Our results indicate that the representation of the operating conditions of the systems through dynamic profiles is more realistic than the representation through a operation profile that does not vary in time, and more precise. Additionally, the MTTF prediction was approximately 90% for Partial Least Squares Regression and Euclidean Distance models.
id UFMG_523951ed3644d59aa35ae9291fd8004c
oai_identifier_str oai:repositorio.ufmg.br:1843/51446
network_acronym_str UFMG
network_name_str Repositório Institucional da UFMG
repository_id_str
spelling Predição de tempo de vida restante em sistemas integrados digitais considerando condições ambientais dinâmicasTempo de vida restanteConfiabilidadeEnvelhecimento de circuitos integradosPredição de falhasEngenharia elétricaConfiabilidade (Engenharia)Circuitos integrados digitaisLocalização de falhas (Engenharia) -The study of integrated circuits reliability has become of sudden importance to the understanding, detection and correction of their failures. Compreending how or under which conditions this aging becomes harmful to a system enable decisions to mitigate or prevent these conditions. This work establishes a flow for analysis and simulation of integrated systems that allows us to understand the aging of it in different conditions. In addition, it allows us to extract and analyze data that are relevant to predict their failure and also serve as input to verification, evaluation and fault-tolerance systems using machine learning techniques. The developed methodology allows the integration of offline and online data collection techniques to update estimation methods, as well as allowing new ones to be added. This work uses three different methods to predict the Mean Time To Failure and the Remaining Useful Lifetime for test circuits. The MTTF is estimated for each of them using a Generalized Linear Model (specifically a Partial Least Squares Regression), Euclidean Distance and Pearson’s Correlation as prediction methods. Our results indicate that the representation of the operating conditions of the systems through dynamic profiles is more realistic than the representation through a operation profile that does not vary in time, and more precise. Additionally, the MTTF prediction was approximately 90% for Partial Least Squares Regression and Euclidean Distance models.O estudo da confiabilidade de circuitos integrados tornou-se de súbita importância para o entendimento, detecção e correção de suas falhas. A compreensão de como ou sob quais condições este envelhecimento torna-se prejudicial a um sistema permitirá tomar decisões que sanem ou evitem estas condições. Esse trabalho estabelece um fluxo para análise e simulação de sistemas integrados que permite entender seu envelhecimento, em diferentes condições. Além disso, permite extrair e analisar dados que são relevantes para prever a sua falha e sirvam de entrada para sistemas de verificação, avaliação e atuação contra falhas utilizando-se de técnicas de aprendizado de máquina. A metodologia desenvolvida permite a integração de técnicas de coleta de dados offline e online para atualização dos métodos de estimativa, além de permitir que novos sejam adicionados. O trabalho utiliza três métodos diferentes para prever o Tempo Médio para Falha (i.e. Mean Time To Failure, MTTF) e o Tempo de Vida Restante para vários circuitos de teste. O MTTF é estimado para cada um deles utilizando um Modelo Linear Generalizado (especificamente uma Regressão de Mínimos Quadrados Parciais), a Distância Euclideana e a Correlação de Pearson como métodos de predição. Os resultados obtidos indicam que a representação das condições de operação dos sistemas por meio de perfis dinâmicos é mais realística do que a representação através de um perfil de operação que não varia no tempo, além de mais precisa. Adicionalmente, a predição do MTTF foi de aproximadamente 90% de precisão para um modelo de Regressão de Mínimos Quadrados Parciais e de Distância Euclideana.Universidade Federal de Minas GeraisBrasilENG - DEPARTAMENTO DE ENGENHARIA ELÉTRICAPrograma de Pós-Graduação em Engenharia ElétricaUFMGFrank Sill Torreshttp://lattes.cnpq.br/6435692548198017Luciana Pedrosa SallesJosé Augusto Miranda NacifPedro Fausto Rodrigues Leite Junior2023-03-31T18:48:52Z2023-03-31T18:48:52Z2017-07-25info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisapplication/pdfhttp://hdl.handle.net/1843/51446porhttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/pt/info:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Institucional da UFMGinstname:Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG)instacron:UFMG2023-03-31T18:48:52Zoai:repositorio.ufmg.br:1843/51446Repositório InstitucionalPUBhttps://repositorio.ufmg.br/oairepositorio@ufmg.bropendoar:2023-03-31T18:48:52Repositório Institucional da UFMG - Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG)false
dc.title.none.fl_str_mv Predição de tempo de vida restante em sistemas integrados digitais considerando condições ambientais dinâmicas
title Predição de tempo de vida restante em sistemas integrados digitais considerando condições ambientais dinâmicas
spellingShingle Predição de tempo de vida restante em sistemas integrados digitais considerando condições ambientais dinâmicas
Pedro Fausto Rodrigues Leite Junior
Tempo de vida restante
Confiabilidade
Envelhecimento de circuitos integrados
Predição de falhas
Engenharia elétrica
Confiabilidade (Engenharia)
Circuitos integrados digitais
Localização de falhas (Engenharia) -
title_short Predição de tempo de vida restante em sistemas integrados digitais considerando condições ambientais dinâmicas
title_full Predição de tempo de vida restante em sistemas integrados digitais considerando condições ambientais dinâmicas
title_fullStr Predição de tempo de vida restante em sistemas integrados digitais considerando condições ambientais dinâmicas
title_full_unstemmed Predição de tempo de vida restante em sistemas integrados digitais considerando condições ambientais dinâmicas
title_sort Predição de tempo de vida restante em sistemas integrados digitais considerando condições ambientais dinâmicas
author Pedro Fausto Rodrigues Leite Junior
author_facet Pedro Fausto Rodrigues Leite Junior
author_role author
dc.contributor.none.fl_str_mv Frank Sill Torres
http://lattes.cnpq.br/6435692548198017
Luciana Pedrosa Salles
José Augusto Miranda Nacif
dc.contributor.author.fl_str_mv Pedro Fausto Rodrigues Leite Junior
dc.subject.por.fl_str_mv Tempo de vida restante
Confiabilidade
Envelhecimento de circuitos integrados
Predição de falhas
Engenharia elétrica
Confiabilidade (Engenharia)
Circuitos integrados digitais
Localização de falhas (Engenharia) -
topic Tempo de vida restante
Confiabilidade
Envelhecimento de circuitos integrados
Predição de falhas
Engenharia elétrica
Confiabilidade (Engenharia)
Circuitos integrados digitais
Localização de falhas (Engenharia) -
description The study of integrated circuits reliability has become of sudden importance to the understanding, detection and correction of their failures. Compreending how or under which conditions this aging becomes harmful to a system enable decisions to mitigate or prevent these conditions. This work establishes a flow for analysis and simulation of integrated systems that allows us to understand the aging of it in different conditions. In addition, it allows us to extract and analyze data that are relevant to predict their failure and also serve as input to verification, evaluation and fault-tolerance systems using machine learning techniques. The developed methodology allows the integration of offline and online data collection techniques to update estimation methods, as well as allowing new ones to be added. This work uses three different methods to predict the Mean Time To Failure and the Remaining Useful Lifetime for test circuits. The MTTF is estimated for each of them using a Generalized Linear Model (specifically a Partial Least Squares Regression), Euclidean Distance and Pearson’s Correlation as prediction methods. Our results indicate that the representation of the operating conditions of the systems through dynamic profiles is more realistic than the representation through a operation profile that does not vary in time, and more precise. Additionally, the MTTF prediction was approximately 90% for Partial Least Squares Regression and Euclidean Distance models.
publishDate 2017
dc.date.none.fl_str_mv 2017-07-25
2023-03-31T18:48:52Z
2023-03-31T18:48:52Z
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/masterThesis
format masterThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.uri.fl_str_mv http://hdl.handle.net/1843/51446
url http://hdl.handle.net/1843/51446
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.rights.driver.fl_str_mv http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/pt/
info:eu-repo/semantics/openAccess
rights_invalid_str_mv http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/pt/
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.publisher.none.fl_str_mv Universidade Federal de Minas Gerais
Brasil
ENG - DEPARTAMENTO DE ENGENHARIA ELÉTRICA
Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica
UFMG
publisher.none.fl_str_mv Universidade Federal de Minas Gerais
Brasil
ENG - DEPARTAMENTO DE ENGENHARIA ELÉTRICA
Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica
UFMG
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Repositório Institucional da UFMG
instname:Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG)
instacron:UFMG
instname_str Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG)
instacron_str UFMG
institution UFMG
reponame_str Repositório Institucional da UFMG
collection Repositório Institucional da UFMG
repository.name.fl_str_mv Repositório Institucional da UFMG - Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG)
repository.mail.fl_str_mv repositorio@ufmg.br
_version_ 1823248232298315776