Determinação de perfis em profundidade de impurezas implantadas através da técnica de microanálise eletrônica, EPMA

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Silva Junior, Agenor Hentz da
Data de Publicação: 2000
Outros Autores: Campos, Cristiani Silveira, Soares, Marcos Roberto Farias, Vasconcellos, Marcos Antonio Zen
Tipo de documento: Artigo de conferência
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UFRGS
Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/79396
Resumo: 255
id UFRGS-2_0b38cbf49d29dd80f85fe306d3880a06
oai_identifier_str oai:www.lume.ufrgs.br:10183/79396
network_acronym_str UFRGS-2
network_name_str Repositório Institucional da UFRGS
repository_id_str
spelling Silva Junior, Agenor Hentz daCampos, Cristiani SilveiraSoares, Marcos Roberto FariasVasconcellos, Marcos Antonio ZenSalão de iniciação Científica (12. : 2000 set. 11-15 : UFRGS, Porto Alegre, RS).2013-10-17T01:49:46Z2000http://hdl.handle.net/10183/79396000280568application/pdfporSalão de Iniciação Científica (12. : 2000 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2000.Implementação IônicaCiências exatas e da terraFísicaDeterminação de perfis em profundidade de impurezas implantadas através da técnica de microanálise eletrônica, EPMAinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjectinfo:eu-repo/semantics/otherinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion255info:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Institucional da UFRGSinstname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)instacron:UFRGSORIGINAL000280568.pdf000280568.pdfResumoapplication/pdf12883http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/79396/1/000280568.pdf820eeaaf0a341afab997e161959ade24MD51TEXT000280568.pdf.txt000280568.pdf.txtExtracted Texttext/plain1803http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/79396/2/000280568.pdf.txt116b639fc5c315bb15711e7f6f53010bMD52THUMBNAIL000280568.pdf.jpg000280568.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg1151http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/79396/3/000280568.pdf.jpg383599a4a5003acabb996b77cb712b47MD5310183/793962018-10-05 08:20:33.522oai:www.lume.ufrgs.br:10183/79396Repositório de PublicaçõesPUBhttps://lume.ufrgs.br/oai/requestopendoar:2018-10-05T11:20:33Repositório Institucional da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)false
dc.title.pt_BR.fl_str_mv Determinação de perfis em profundidade de impurezas implantadas através da técnica de microanálise eletrônica, EPMA
title Determinação de perfis em profundidade de impurezas implantadas através da técnica de microanálise eletrônica, EPMA
spellingShingle Determinação de perfis em profundidade de impurezas implantadas através da técnica de microanálise eletrônica, EPMA
Silva Junior, Agenor Hentz da
Ciências exatas e da terra
Física
Implementação Iônica
title_short Determinação de perfis em profundidade de impurezas implantadas através da técnica de microanálise eletrônica, EPMA
title_full Determinação de perfis em profundidade de impurezas implantadas através da técnica de microanálise eletrônica, EPMA
title_fullStr Determinação de perfis em profundidade de impurezas implantadas através da técnica de microanálise eletrônica, EPMA
title_full_unstemmed Determinação de perfis em profundidade de impurezas implantadas através da técnica de microanálise eletrônica, EPMA
title_sort Determinação de perfis em profundidade de impurezas implantadas através da técnica de microanálise eletrônica, EPMA
author Silva Junior, Agenor Hentz da
author_facet Silva Junior, Agenor Hentz da
Campos, Cristiani Silveira
Soares, Marcos Roberto Farias
Vasconcellos, Marcos Antonio Zen
author_role author
author2 Campos, Cristiani Silveira
Soares, Marcos Roberto Farias
Vasconcellos, Marcos Antonio Zen
author2_role author
author
author
dc.contributor.event.pt_BR.fl_str_mv Salão de iniciação Científica (12. : 2000 set. 11-15 : UFRGS, Porto Alegre, RS).
dc.contributor.author.fl_str_mv Silva Junior, Agenor Hentz da
Campos, Cristiani Silveira
Soares, Marcos Roberto Farias
Vasconcellos, Marcos Antonio Zen
dc.subject.cnpq.fl_str_mv Ciências exatas e da terra
topic Ciências exatas e da terra
Física
Implementação Iônica
dc.subject.por.fl_str_mv Física
dc.subject.session.pt_BR.fl_str_mv Implementação Iônica
description 255
publishDate 2000
dc.date.issued.fl_str_mv 2000
dc.date.accessioned.fl_str_mv 2013-10-17T01:49:46Z
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/conferenceObject
info:eu-repo/semantics/other
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
format conferenceObject
status_str publishedVersion
dc.identifier.uri.fl_str_mv http://hdl.handle.net/10183/79396
dc.identifier.nrb.pt_BR.fl_str_mv 000280568
url http://hdl.handle.net/10183/79396
identifier_str_mv 000280568
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.relation.ispartof.pt_BR.fl_str_mv Salão de Iniciação Científica (12. : 2000 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2000.
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Repositório Institucional da UFRGS
instname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron:UFRGS
instname_str Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron_str UFRGS
institution UFRGS
reponame_str Repositório Institucional da UFRGS
collection Repositório Institucional da UFRGS
bitstream.url.fl_str_mv http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/79396/1/000280568.pdf
http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/79396/2/000280568.pdf.txt
http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/79396/3/000280568.pdf.jpg
bitstream.checksum.fl_str_mv 820eeaaf0a341afab997e161959ade24
116b639fc5c315bb15711e7f6f53010b
383599a4a5003acabb996b77cb712b47
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv MD5
MD5
MD5
repository.name.fl_str_mv Repositório Institucional da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
repository.mail.fl_str_mv
_version_ 1815447510680862720

Registros relacionados