Caracterização das propriedades físicas e elétricas de heteroestrutura SiO/sub 2/Ge/Si

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Ludwig, Jaime L.
Data de Publicação: 1999
Outros Autores: Kuklinski, Félix A.S., Souza, Joel Pereira de, Behar, Moni, Grande, Pedro Luis
Tipo de documento: Artigo de conferência
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UFRGS
Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/86267
Resumo: 155
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