Análise da Acurácia Altimétrica dos Modelos Digitais de Superfície SRTM, Aster e Topodata e Aplicação na Representação 3D do Pantanal da Nhecolândia
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Data de Publicação: | 2019 |
Outros Autores: | , , , , |
Tipo de documento: | Artigo |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Anuário do Instituto de Geociências (Online) |
Texto Completo: | https://revistas.ufrj.br/index.php/aigeo/article/view/27006 |
Resumo: | Os modelos digitais de superfície (MDS) do SRTM e ASTER são importantes para o mapeamento geomorfológico, sendo então duas ferramentas notórias para a distinção das diferentes unidades de relevo e setores da paisagem. Considerando a possibilidade de uso destas ferramentas, pretende-se demonstrar neste trabalho a importância do uso destes dados para a representação do relevo do Pantanal da Nhecolândia. Inicialmente, foi realizado um controle de qualidade dos dados de altimetria do SRTM (90 m e 30 m, Versão 4), ASTER( 30 m) e Topodata (30 m) com base no Padrão de Exatidão Cartográica dos Produtos Cartográicos Digitais (PEC-PCD), usando como referência marcos geodésicos do IBGE (Instituto Brasileiro de Geograia e EstatísticaO). s dados dos MDS foram analisados e processados com o uso de softwares livres. A partir da análise de acurácia, veriicou-se que o MDS SRTM (30 m) foi o único modelo que apresentou acurácia compatível com a escala 1:50.000, classe A. Os resultados mostram que a representação temática elaborada possibilita analisar, dentre outras, regiões de lagoas e vazantes na Nhecolândia que são os principais elementos da paisagem da região em estudo. |
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Análise da Acurácia Altimétrica dos Modelos Digitais de Superfície SRTM, Aster e Topodata e Aplicação na Representação 3D do Pantanal da NhecolândiaModelos digitais de superfície; Padrão de Exatidão Cartográica; Cartograia temáticaOs modelos digitais de superfície (MDS) do SRTM e ASTER são importantes para o mapeamento geomorfológico, sendo então duas ferramentas notórias para a distinção das diferentes unidades de relevo e setores da paisagem. Considerando a possibilidade de uso destas ferramentas, pretende-se demonstrar neste trabalho a importância do uso destes dados para a representação do relevo do Pantanal da Nhecolândia. Inicialmente, foi realizado um controle de qualidade dos dados de altimetria do SRTM (90 m e 30 m, Versão 4), ASTER( 30 m) e Topodata (30 m) com base no Padrão de Exatidão Cartográica dos Produtos Cartográicos Digitais (PEC-PCD), usando como referência marcos geodésicos do IBGE (Instituto Brasileiro de Geograia e EstatísticaO). s dados dos MDS foram analisados e processados com o uso de softwares livres. A partir da análise de acurácia, veriicou-se que o MDS SRTM (30 m) foi o único modelo que apresentou acurácia compatível com a escala 1:50.000, classe A. Os resultados mostram que a representação temática elaborada possibilita analisar, dentre outras, regiões de lagoas e vazantes na Nhecolândia que são os principais elementos da paisagem da região em estudo.Universidade Federal do Rio de JaneiroMarini, Leandro BoniettiJunior, José MarcatoRamos, Ana Paula MarquesFilho, Antonio Conceição ParanhosBarros, Waleria MenezesHiga, Leandro Tsuneki2019-07-30info:eu-repo/semantics/articleinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionapplication/pdfhttps://revistas.ufrj.br/index.php/aigeo/article/view/2700610.11137/2017_3_48_54Anuário do Instituto de Geociências; Vol 40, No 3 (2017); 48-54Anuário do Instituto de Geociências; Vol 40, No 3 (2017); 48-541982-39080101-9759reponame:Anuário do Instituto de Geociências (Online)instname:Universidade Federal do Rio de Janeiro (UFRJ)instacron:UFRJporhttps://revistas.ufrj.br/index.php/aigeo/article/view/27006/14748Copyright (c) 2019 Anuário do Instituto de Geociênciashttp://creativecommons.org/licenses/by/4.0info:eu-repo/semantics/openAccess2019-07-30T20:09:28Zoai:www.revistas.ufrj.br:article/27006Revistahttps://revistas.ufrj.br/index.php/aigeo/indexPUBhttps://revistas.ufrj.br/index.php/aigeo/oaianuario@igeo.ufrj.br||1982-39080101-9759opendoar:2019-07-30T20:09:28Anuário do Instituto de Geociências (Online) - Universidade Federal do Rio de Janeiro (UFRJ)false |
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