Balanço tecnológico de patentes na ferramenta de Diagrama de Ishikawa

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Santos, Paulo Franklin Tavares
Data de Publicação: 2019
Outros Autores: Santos, Alessandro Souza, Oliveira, Danilo Santos, Araujo, Pedro Vitor Goes, Carneiro Neto, José Aprígio
Tipo de documento: Artigo de conferência
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UFS
Texto Completo: http://ri.ufs.br/jspui/handle/riufs/12566
Resumo: The Ishikawa Diagram is a quality tool that involves an orderly presentation of the sequence through primary and secondary causes using a problematic solution. One tool is implemented in various academic fields to solve fast impact problems or even the same routine through the flowchart in an enterprise process line. Thus, the present work aimed to analyze the number of filed patents using the Ishikawa tool in the patent databases of the World Intellectual Property Organization (WIPO), the National Institute of Industrial Property (INPI) and the European Patent Office. (Espacenet). For this, a methodology used in this research relied on the use of keywords that relate to customers using this tool. The search results were analyzed, interpreted and compared, generating statistical graphs that show the process of technological innovation in this field. Based on some of the results of the analysis, Brazil observes that when it observes other countries such as China with 61 filings in the three bases, it has a low number of related patents within the scope of the Ishikawa Diagram, with only 1 patent filing only. on the basis of the INPI.
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spelling Santos, Paulo Franklin TavaresSantos, Alessandro SouzaOliveira, Danilo SantosAraujo, Pedro Vitor GoesCarneiro Neto, José Aprígio2020-01-15T17:33:18Z2020-01-15T17:33:18Z2019-11SANTOS, P. F. T. et al. Balanço tecnológico de patentes na ferramenta de Diagrama de Ishikawa. In: SIMPÓSIO DE ENGENHARIA DE PRODUÇÃO DE SERGIPE, 11., 2019, São Cristóvão, SE. Anais [...]. São Cristóvão, SE, 2019. p. 211-221.2447-0635http://ri.ufs.br/jspui/handle/riufs/12566Autorização para publicação no Repositório Institucional da Universidade Federal de Sergipe (RIUFS) concedida pelo editor.The Ishikawa Diagram is a quality tool that involves an orderly presentation of the sequence through primary and secondary causes using a problematic solution. One tool is implemented in various academic fields to solve fast impact problems or even the same routine through the flowchart in an enterprise process line. Thus, the present work aimed to analyze the number of filed patents using the Ishikawa tool in the patent databases of the World Intellectual Property Organization (WIPO), the National Institute of Industrial Property (INPI) and the European Patent Office. (Espacenet). For this, a methodology used in this research relied on the use of keywords that relate to customers using this tool. The search results were analyzed, interpreted and compared, generating statistical graphs that show the process of technological innovation in this field. Based on some of the results of the analysis, Brazil observes that when it observes other countries such as China with 61 filings in the three bases, it has a low number of related patents within the scope of the Ishikawa Diagram, with only 1 patent filing only. on the basis of the INPI.O Diagrama de Ishikawa é uma ferramenta de qualidade que envolve a apresentação ordenadas da sequência por meio de causas primárias e secundárias através de uma finalidade do problema. A ferramenta é implementada em vários campos acadêmicos para solução de problemas de impactos rápidos ou até mesmo uma rotina através do fluxograma em uma linha de processo da empresa. Assim, o presente trabalho teve por objetivo analisar a quantidade de patentes depositada que utilizam a ferramenta de Ishikawa nos bancos de dados de patente da Organização Mundial da Propriedade Intelectual (WIPO), do Instituto Nacional de Propriedade Industrial (INPI) e do Escritório Europeu de Patentes (Espacenet). Para isto, a metodologia utilizada nessa pesquisa contou com a utilização de palavras-chave que se relacionam com patentes com o uso dessa ferramenta. Os resultados das buscas foram analisados, interpretados e comparados, gerando gráficos estatísticos que mostram o processo de inovação tecnológico desse ramo. Com base em alguns dos resultados da análise, observa-se que o Brasil, quando comparado a outros países como a China com 61 depósitos nas três bases, apresenta uma baixa quantidade de patentes relacionados no âmbito do Diagrama de Ishikawa, apenas com 1 depósito de patentes somente na base INPI.São Cristóvão, SEporDepartamento de Engenharia de Produção - Universidade Federal de SergipeDEPRO/UFSAnais do XI SIMPRODDiagrama de IshikawaInovação tecnológicaPatentesIshikawa diagramTecnologic innovationPatentsBalanço tecnológico de patentes na ferramenta de Diagrama de IshikawaTechnology balance of patents in Ishikawa Diagram toolinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/conferenceObjectreponame:Repositório Institucional da UFSinstname:Universidade Federal de Sergipe (UFS)instacron:UFSinfo:eu-repo/semantics/openAccessTEXTBalancoTecnologicoPatentes.pdf.txtBalancoTecnologicoPatentes.pdf.txtExtracted texttext/plain24155https://ri.ufs.br/jspui/bitstream/riufs/12566/3/BalancoTecnologicoPatentes.pdf.txt76f73179506e92fe8a77303e263f9180MD53THUMBNAILBalancoTecnologicoPatentes.pdf.jpgBalancoTecnologicoPatentes.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg1858https://ri.ufs.br/jspui/bitstream/riufs/12566/4/BalancoTecnologicoPatentes.pdf.jpgd4b967bc55bac341cab4299e5855a8ffMD54LICENSElicense.txtlicense.txttext/plain; charset=utf-81475https://ri.ufs.br/jspui/bitstream/riufs/12566/1/license.txt098cbbf65c2c15e1fb2e49c5d306a44cMD51ORIGINALBalancoTecnologicoPatentes.pdfBalancoTecnologicoPatentes.pdfapplication/pdf275548https://ri.ufs.br/jspui/bitstream/riufs/12566/2/BalancoTecnologicoPatentes.pdffd28269985ac35d8ca6384c0c37c9d7fMD52riufs/125662020-01-15 14:33:18.733oai:ufs.br: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Repositório InstitucionalPUBhttps://ri.ufs.br/oai/requestrepositorio@academico.ufs.bropendoar:2020-01-15T17:33:18Repositório Institucional da UFS - Universidade Federal de Sergipe (UFS)false
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