Projeto de uma Nova Arquitetura de FPGA para aplicações BIST e DSP

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Gonsales, Alex Dias
Data de Publicação: 2002
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: por
Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/12010
Resumo: Os sistemas eletrônicos digitais estão sendo cada vez mais utilizados em aplicações de telecomunicações, processamento de voz, instrumentação, biomedicina e multimídia. A maioria dessas aplicações requer algum tipo de processamento de sinal, sendo que essa função normalmente é executada em grande parte por um bloco digital. Além disso, considerando-se os diversos tipos de circuitos existentes num sistema, tais como memórias RAM (Random Access Memory) e ROM (Read Only Memory), partes operativas e partes de controle complexas, é cada vez mais importante a preocupação com o teste desses sistemas complexos. O aumento da complexidade dos circuitos a serem testados exige também um aumento na complexidade dos circuitos testadores (teste externo), tornando estes últimos muito caros. Uma alternativa viável é integrar algumas ou todas as funções de teste no próprio chip a ser testado. Por outro lado, essa estratégia pode resultar em um custo proibitivo em termos de área em silício.É interessante observar, no entanto, que se os testes e a função de processamento de sinal não necessitarem ser executados em paralelo, então é possível utilizar uma única área reconfigurável para realizar essas funções de uma maneira sequencial. Logo, este trabalho propõe uma arquitetura reconfigurável otimizada para a implementação desses dois tipos de circuitos (processamento digital de sinais e teste). Com esta abordagem pretende-se ter ganhos de área em relação tanto a uma implementação dedicada (full-custom) quanto a uma implementação em dispositivos reconfiguráveis comerciais. Para validar essas idéias, a arquitetura proposta é descrita em uma linguagem de descrição de hardware, e são mapeados e simulados algoritmos de teste e de processamento de sinais nessa arquitetura. S˜ao feitas estimativas da área ocupada pelas três abordagens (dedicada, dispositivo reconfigurável comercial e nova arquitetura proposta), bem como uma análise comparativa entre as mesmas. Também são feitas estimativas de atraso e frequência máxima de operação.
id URGS_81660a76d967522fd2a45f320937b5e4
oai_identifier_str oai:www.lume.ufrgs.br:10183/12010
network_acronym_str URGS
network_name_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
repository_id_str 1853
spelling Gonsales, Alex DiasLubaszewski, Marcelo SoaresCarro, Luigi2008-03-05T04:11:22Z2002http://hdl.handle.net/10183/12010000618280Os sistemas eletrônicos digitais estão sendo cada vez mais utilizados em aplicações de telecomunicações, processamento de voz, instrumentação, biomedicina e multimídia. A maioria dessas aplicações requer algum tipo de processamento de sinal, sendo que essa função normalmente é executada em grande parte por um bloco digital. Além disso, considerando-se os diversos tipos de circuitos existentes num sistema, tais como memórias RAM (Random Access Memory) e ROM (Read Only Memory), partes operativas e partes de controle complexas, é cada vez mais importante a preocupação com o teste desses sistemas complexos. O aumento da complexidade dos circuitos a serem testados exige também um aumento na complexidade dos circuitos testadores (teste externo), tornando estes últimos muito caros. Uma alternativa viável é integrar algumas ou todas as funções de teste no próprio chip a ser testado. Por outro lado, essa estratégia pode resultar em um custo proibitivo em termos de área em silício.É interessante observar, no entanto, que se os testes e a função de processamento de sinal não necessitarem ser executados em paralelo, então é possível utilizar uma única área reconfigurável para realizar essas funções de uma maneira sequencial. Logo, este trabalho propõe uma arquitetura reconfigurável otimizada para a implementação desses dois tipos de circuitos (processamento digital de sinais e teste). Com esta abordagem pretende-se ter ganhos de área em relação tanto a uma implementação dedicada (full-custom) quanto a uma implementação em dispositivos reconfiguráveis comerciais. Para validar essas idéias, a arquitetura proposta é descrita em uma linguagem de descrição de hardware, e são mapeados e simulados algoritmos de teste e de processamento de sinais nessa arquitetura. S˜ao feitas estimativas da área ocupada pelas três abordagens (dedicada, dispositivo reconfigurável comercial e nova arquitetura proposta), bem como uma análise comparativa entre as mesmas. Também são feitas estimativas de atraso e frequência máxima de operação.Digital electronic systems have been increasingly used in a large spectrum of applications, such as communication, voice processing, instrumentation, biomedicine, and multimedia. Most of these applications require some kind of signal processing. Most of this task is usually performed by a digital block. Moreover, these complex systems are composed of different kinds of circuits, such as RAM (Random Access Memory) and ROM (Read Only Memory) memories, complex datapaths and control parts. This way, the test of such systems is ever more important. Likewise, the increasingly complexity of the circuits to be tested requires more complex testers (external test), making the latter more expensive. An approach to address this problem is to embbed the test functions onto the chip to be tested itself. Nevertheless, this approach may bring a prohibitive cost in terms of area on silicon. However, if the test and the signal processing functions are not required to run in parallel, then it is possible to use the same reconfigurable area to implement these functions one after another. Thus, this work proposes an optimized reconfigurable architecture to implement this kind of circuits (digital signal processing and test). This approach intends to decrease the occupied area in comparison to a dedicated and also to a comercial reconfigurable device implementation. To validate these ideas, the proposed architecture is described using a hardware description language and some test and digital signal processing applications are mapped and simulated on this architecture. In this work an estimative of the occupied area by the three approaches (dedicated, comercial reconfigurable device, and the new proposed architecture) as well as a comparison analysis between them are performed. Likewise, a delay estimate is performed and the maximum operation frequency is evaluated.application/pdfporMicroeletrônicaFpgaProcessamento : SinaisReconfigurable ArchitecturesFPGAHardware testBistDigital signal processingDSPVHDLProjeto de uma Nova Arquitetura de FPGA para aplicações BIST e DSPA new FPGA architecture for dsp and bsit applications info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisUniversidade Federal do Rio Grande do SulInstituto de InformáticaPrograma de Pós-Graduação em ComputaçãoPorto Alegre, BR-RS2007mestradoinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGSinstname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)instacron:UFRGSORIGINAL000618280.pdf000618280.pdfTexto completoapplication/pdf821801http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/12010/1/000618280.pdf75cf1016713b4b0ef6b6002c504cc0feMD51TEXT000618280.pdf.txt000618280.pdf.txtExtracted Texttext/plain187873http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/12010/2/000618280.pdf.txtd3388148547ec5551e75a70bec4db49aMD52THUMBNAIL000618280.pdf.jpg000618280.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg1104http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/12010/3/000618280.pdf.jpg51ff3d5987940969f9ce67ede8364ad2MD5310183/120102018-10-09 08:30:00.745oai:www.lume.ufrgs.br:10183/12010Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttps://lume.ufrgs.br/handle/10183/2PUBhttps://lume.ufrgs.br/oai/requestlume@ufrgs.br||lume@ufrgs.bropendoar:18532018-10-09T11:30Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)false
dc.title.pt_BR.fl_str_mv Projeto de uma Nova Arquitetura de FPGA para aplicações BIST e DSP
dc.title.alternative.en.fl_str_mv A new FPGA architecture for dsp and bsit applications
title Projeto de uma Nova Arquitetura de FPGA para aplicações BIST e DSP
spellingShingle Projeto de uma Nova Arquitetura de FPGA para aplicações BIST e DSP
Gonsales, Alex Dias
Microeletrônica
Fpga
Processamento : Sinais
Reconfigurable Architectures
FPGA
Hardware test
Bist
Digital signal processing
DSP
VHDL
title_short Projeto de uma Nova Arquitetura de FPGA para aplicações BIST e DSP
title_full Projeto de uma Nova Arquitetura de FPGA para aplicações BIST e DSP
title_fullStr Projeto de uma Nova Arquitetura de FPGA para aplicações BIST e DSP
title_full_unstemmed Projeto de uma Nova Arquitetura de FPGA para aplicações BIST e DSP
title_sort Projeto de uma Nova Arquitetura de FPGA para aplicações BIST e DSP
author Gonsales, Alex Dias
author_facet Gonsales, Alex Dias
author_role author
dc.contributor.author.fl_str_mv Gonsales, Alex Dias
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv Lubaszewski, Marcelo Soares
dc.contributor.advisor-co1.fl_str_mv Carro, Luigi
contributor_str_mv Lubaszewski, Marcelo Soares
Carro, Luigi
dc.subject.por.fl_str_mv Microeletrônica
Fpga
Processamento : Sinais
topic Microeletrônica
Fpga
Processamento : Sinais
Reconfigurable Architectures
FPGA
Hardware test
Bist
Digital signal processing
DSP
VHDL
dc.subject.eng.fl_str_mv Reconfigurable Architectures
FPGA
Hardware test
Bist
Digital signal processing
DSP
VHDL
description Os sistemas eletrônicos digitais estão sendo cada vez mais utilizados em aplicações de telecomunicações, processamento de voz, instrumentação, biomedicina e multimídia. A maioria dessas aplicações requer algum tipo de processamento de sinal, sendo que essa função normalmente é executada em grande parte por um bloco digital. Além disso, considerando-se os diversos tipos de circuitos existentes num sistema, tais como memórias RAM (Random Access Memory) e ROM (Read Only Memory), partes operativas e partes de controle complexas, é cada vez mais importante a preocupação com o teste desses sistemas complexos. O aumento da complexidade dos circuitos a serem testados exige também um aumento na complexidade dos circuitos testadores (teste externo), tornando estes últimos muito caros. Uma alternativa viável é integrar algumas ou todas as funções de teste no próprio chip a ser testado. Por outro lado, essa estratégia pode resultar em um custo proibitivo em termos de área em silício.É interessante observar, no entanto, que se os testes e a função de processamento de sinal não necessitarem ser executados em paralelo, então é possível utilizar uma única área reconfigurável para realizar essas funções de uma maneira sequencial. Logo, este trabalho propõe uma arquitetura reconfigurável otimizada para a implementação desses dois tipos de circuitos (processamento digital de sinais e teste). Com esta abordagem pretende-se ter ganhos de área em relação tanto a uma implementação dedicada (full-custom) quanto a uma implementação em dispositivos reconfiguráveis comerciais. Para validar essas idéias, a arquitetura proposta é descrita em uma linguagem de descrição de hardware, e são mapeados e simulados algoritmos de teste e de processamento de sinais nessa arquitetura. S˜ao feitas estimativas da área ocupada pelas três abordagens (dedicada, dispositivo reconfigurável comercial e nova arquitetura proposta), bem como uma análise comparativa entre as mesmas. Também são feitas estimativas de atraso e frequência máxima de operação.
publishDate 2002
dc.date.issued.fl_str_mv 2002
dc.date.accessioned.fl_str_mv 2008-03-05T04:11:22Z
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/masterThesis
format masterThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.uri.fl_str_mv http://hdl.handle.net/10183/12010
dc.identifier.nrb.pt_BR.fl_str_mv 000618280
url http://hdl.handle.net/10183/12010
identifier_str_mv 000618280
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
instname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron:UFRGS
instname_str Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron_str UFRGS
institution UFRGS
reponame_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
collection Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
bitstream.url.fl_str_mv http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/12010/1/000618280.pdf
http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/12010/2/000618280.pdf.txt
http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/12010/3/000618280.pdf.jpg
bitstream.checksum.fl_str_mv 75cf1016713b4b0ef6b6002c504cc0fe
d3388148547ec5551e75a70bec4db49a
51ff3d5987940969f9ce67ede8364ad2
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv MD5
MD5
MD5
repository.name.fl_str_mv Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
repository.mail.fl_str_mv lume@ufrgs.br||lume@ufrgs.br
_version_ 1800308956622487552