ANÁLISE DAS CARACTERÍSTICAS DE DEPOSIÇÃO NAS PROPRIEDADES ÓPTICAS DE FILMES FINOS DE NITRETO DE SILÍCIO

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: João Luis Aguiar Abreu
Data de Publicação: 2018
Tipo de documento: Dissertação
Título da fonte: Portal de Dados Abertos da CAPES
Texto Completo: https://sucupira.capes.gov.br/sucupira/public/consultas/coleta/trabalhoConclusao/viewTrabalhoConclusao.jsf?popup=true&id_trabalho=6344989
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Vidro, elipsometria, nitreto de silício, filmes finos e pulverização catódica
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João Luis Aguiar Abreu
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