Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias
Autor(a) principal: | |
---|---|
Data de Publicação: | 2014 |
Outros Autores: | , |
Tipo de documento: | Artigo |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Repositório Institucional da FURG (RI FURG) |
Texto Completo: | http://repositorio.furg.br/handle/1/4810 |
Resumo: | Os avanços tecnológicos em circuitos integrados tem como foco principal a redução da dimensão dos transistores. No entanto, esta redução traz consequências indesejáveis, como o possível aumento no número de falhas. Neste contexto, este trabalho tem por objetivo analisar o comportamento de um tipo de falha permanente que ocorre em transistores MOS chamada de Stuck-On. Esta falha se caracteriza por manter um transistor sempre conduzindo, e sua principal característica para detecção é que o consumo de potência de um circuito tende a ser muito maior. Em nanotecnologias, a potência total sofre ainda com o aumento do consumo estático das novas tecnologias. Isso torna relevante avaliar o comportamento de portas lógicas em tecnologias nanométricas na presença de falhas Stuck-On. Para isso, foi adotado um conjunto de portas lógicas em tecnologia CMOS, injetando falhas únicas Stuck-On nos circuitos e avaliando os efeitos da falha no consumo de potência. Além disso, este trabalho investiga o impacto de inserir técnicas de tolerância a falhas para que o circuito continue em funcionamento correto mesmo na presença de falhas. Foi adotada a técnica de TMR nas portas lógicas avaliadas, comprovando a tolerância a falhas individuais e demonstrando o impacto nas características de potência, desempenho e área. |
id |
FURG_22f380e5d3fe10da2691c0847ca1d3ae |
---|---|
oai_identifier_str |
oai:repositorio.furg.br:1/4810 |
network_acronym_str |
FURG |
network_name_str |
Repositório Institucional da FURG (RI FURG) |
repository_id_str |
|
spelling |
Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologiasTecnologia CMOSPortas lógicasStuck-onTolerância a falhasOs avanços tecnológicos em circuitos integrados tem como foco principal a redução da dimensão dos transistores. No entanto, esta redução traz consequências indesejáveis, como o possível aumento no número de falhas. Neste contexto, este trabalho tem por objetivo analisar o comportamento de um tipo de falha permanente que ocorre em transistores MOS chamada de Stuck-On. Esta falha se caracteriza por manter um transistor sempre conduzindo, e sua principal característica para detecção é que o consumo de potência de um circuito tende a ser muito maior. Em nanotecnologias, a potência total sofre ainda com o aumento do consumo estático das novas tecnologias. Isso torna relevante avaliar o comportamento de portas lógicas em tecnologias nanométricas na presença de falhas Stuck-On. Para isso, foi adotado um conjunto de portas lógicas em tecnologia CMOS, injetando falhas únicas Stuck-On nos circuitos e avaliando os efeitos da falha no consumo de potência. Além disso, este trabalho investiga o impacto de inserir técnicas de tolerância a falhas para que o circuito continue em funcionamento correto mesmo na presença de falhas. Foi adotada a técnica de TMR nas portas lógicas avaliadas, comprovando a tolerância a falhas individuais e demonstrando o impacto nas características de potência, desempenho e área.2015-04-29T17:31:29Z2015-04-29T17:31:29Z2014info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/articleapplication/pdfZIMPECK, Alexandra Lackmann; MEINHARDT, Cristina; BUTZEN, Paulo Francisco. Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias. Revista Junior de Iniciação Científica em Ciências Exatas e Engenharia, v. 1, n. 7, p. 1-10, 2014. Disponível em:<http://www.icceeg.c3.furg.br/index.php?Itemid=837&option=bloco_texto&id_site_componente=1241>. Acesso em: 08 abr. 2015.2236-0093http://repositorio.furg.br/handle/1/4810porZimpeck, Alexandra LackmannMeinhardt, CristinaButzen, Paulo Franciscoinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Institucional da FURG (RI FURG)instname:Universidade Federal do Rio Grande (FURG)instacron:FURG2015-04-29T17:31:30Zoai:repositorio.furg.br:1/4810Repositório InstitucionalPUBhttps://repositorio.furg.br/oai/request || http://200.19.254.174/oai/requestopendoar:2015-04-29T17:31:30Repositório Institucional da FURG (RI FURG) - Universidade Federal do Rio Grande (FURG)false |
dc.title.none.fl_str_mv |
Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias |
title |
Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias |
spellingShingle |
Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias Zimpeck, Alexandra Lackmann Tecnologia CMOS Portas lógicas Stuck-on Tolerância a falhas |
title_short |
Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias |
title_full |
Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias |
title_fullStr |
Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias |
title_full_unstemmed |
Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias |
title_sort |
Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias |
author |
Zimpeck, Alexandra Lackmann |
author_facet |
Zimpeck, Alexandra Lackmann Meinhardt, Cristina Butzen, Paulo Francisco |
author_role |
author |
author2 |
Meinhardt, Cristina Butzen, Paulo Francisco |
author2_role |
author author |
dc.contributor.author.fl_str_mv |
Zimpeck, Alexandra Lackmann Meinhardt, Cristina Butzen, Paulo Francisco |
dc.subject.por.fl_str_mv |
Tecnologia CMOS Portas lógicas Stuck-on Tolerância a falhas |
topic |
Tecnologia CMOS Portas lógicas Stuck-on Tolerância a falhas |
description |
Os avanços tecnológicos em circuitos integrados tem como foco principal a redução da dimensão dos transistores. No entanto, esta redução traz consequências indesejáveis, como o possível aumento no número de falhas. Neste contexto, este trabalho tem por objetivo analisar o comportamento de um tipo de falha permanente que ocorre em transistores MOS chamada de Stuck-On. Esta falha se caracteriza por manter um transistor sempre conduzindo, e sua principal característica para detecção é que o consumo de potência de um circuito tende a ser muito maior. Em nanotecnologias, a potência total sofre ainda com o aumento do consumo estático das novas tecnologias. Isso torna relevante avaliar o comportamento de portas lógicas em tecnologias nanométricas na presença de falhas Stuck-On. Para isso, foi adotado um conjunto de portas lógicas em tecnologia CMOS, injetando falhas únicas Stuck-On nos circuitos e avaliando os efeitos da falha no consumo de potência. Além disso, este trabalho investiga o impacto de inserir técnicas de tolerância a falhas para que o circuito continue em funcionamento correto mesmo na presença de falhas. Foi adotada a técnica de TMR nas portas lógicas avaliadas, comprovando a tolerância a falhas individuais e demonstrando o impacto nas características de potência, desempenho e área. |
publishDate |
2014 |
dc.date.none.fl_str_mv |
2014 2015-04-29T17:31:29Z 2015-04-29T17:31:29Z |
dc.type.status.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/article |
format |
article |
status_str |
publishedVersion |
dc.identifier.uri.fl_str_mv |
ZIMPECK, Alexandra Lackmann; MEINHARDT, Cristina; BUTZEN, Paulo Francisco. Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias. Revista Junior de Iniciação Científica em Ciências Exatas e Engenharia, v. 1, n. 7, p. 1-10, 2014. Disponível em:<http://www.icceeg.c3.furg.br/index.php?Itemid=837&option=bloco_texto&id_site_componente=1241>. Acesso em: 08 abr. 2015. 2236-0093 http://repositorio.furg.br/handle/1/4810 |
identifier_str_mv |
ZIMPECK, Alexandra Lackmann; MEINHARDT, Cristina; BUTZEN, Paulo Francisco. Análise do comportamento de portas lógicas CMOS com falhas stuck-on em nanotecnologias. Revista Junior de Iniciação Científica em Ciências Exatas e Engenharia, v. 1, n. 7, p. 1-10, 2014. Disponível em:<http://www.icceeg.c3.furg.br/index.php?Itemid=837&option=bloco_texto&id_site_componente=1241>. Acesso em: 08 abr. 2015. 2236-0093 |
url |
http://repositorio.furg.br/handle/1/4810 |
dc.language.iso.fl_str_mv |
por |
language |
por |
dc.rights.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/openAccess |
eu_rights_str_mv |
openAccess |
dc.format.none.fl_str_mv |
application/pdf |
dc.source.none.fl_str_mv |
reponame:Repositório Institucional da FURG (RI FURG) instname:Universidade Federal do Rio Grande (FURG) instacron:FURG |
instname_str |
Universidade Federal do Rio Grande (FURG) |
instacron_str |
FURG |
institution |
FURG |
reponame_str |
Repositório Institucional da FURG (RI FURG) |
collection |
Repositório Institucional da FURG (RI FURG) |
repository.name.fl_str_mv |
Repositório Institucional da FURG (RI FURG) - Universidade Federal do Rio Grande (FURG) |
repository.mail.fl_str_mv |
|
_version_ |
1807384391228325888 |