"Uso da técnica de cartografia-MEIS para a determinação do strain em filmes finos" ("On the use of MEIS-cartography for determination of the strain in thin films").

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: TIAGO SILVA DE AVILA
Data de Publicação: 2016
Tipo de documento: Tese
Título da fonte: Portal de Dados Abertos da CAPES
Texto Completo: https://sucupira.capes.gov.br/sucupira/public/consultas/coleta/trabalhoConclusao/viewTrabalhoConclusao.jsf?popup=true&id_trabalho=3730112
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