SiO2 films on 4H-SiC : reducing interface electrical degradation due to thermal oxidation

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Pitthan Filho, Eduardo
Data de Publicação: 2013
Outros Autores: Corrêa, Silma Alberton, Palmieri, Rodrigo, Soares, Gabriel Vieira, Boudinov, Henri Ivanov, Stedile, Fernanda Chiarello
Tipo de documento: Artigo de conferência
Idioma: eng
Título da fonte: Repositório Institucional da UFRGS
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