Resultados da busca por Autor

1

Statistical model for the circuit bandwidth dependence of low-frequency noise in deep-submicrometer MOSFETs

por Wirth, Gilson Inacio

Publicado em 2007

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Artigo

2

Modeling of statistical low-frequency noise of deep-submicrometer MOSFETs

por Wirth, Gilson Inacio

Publicado em 2005

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Artigo

3

Single event transients in logic circuits - load and propagation induced pulse broadening

por Wirth, Gilson Inacio

Publicado em 2008

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Artigo

4

SGC : um ambiente para a automação de procedimentos de caracterização e teste

por Wirth, Gilson Inacio

Publicado em 1994

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Dissertação

5

Medidas elétricas em microestruturas integradas sobre silício

por Husemann, Ronaldo

Publicado em 1993

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Artigo de conferência

6

Device degradation and resilient computing

por Glösekötter, Peter

Publicado em 2008

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Artigo de conferência

7

Um ambiente de software para a automação de procedimentos de caracterização e teste

por Wartchow, Ricardo

Publicado em 1995

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Artigo de conferência

8

Tbulk-BICS : a Built-in current sensor robust to process and temperature variations for soft error detection

por Henes Neto, Egas

Publicado em 2008

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Artigo

9

Analysis of Total Ionizing Dose Effects on 0.13 µm Technology-Temperature-Compensated Voltage References

por Both,Thiago Hanna

Publicado em 2013

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Artigo

10

Técnicas probabilísticas para análise de yield em nível elétrico usando propagação de erros e derivadas numéricas

por Brusamarello, Lucas

Publicado em 2007

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Artigo

11

An electric-based model for coupling traps effect on random telegraph noise

por Becker, Thales Exenberger

Publicado em 2020

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Artigo

12

Analysis of the negative-bias-temperature-instability on omega-gate silicon nanowire SOI MOSFETs with different dimensions

por Silva, Vanessa Cristina Pereira da

Publicado em 2020

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Artigo

13

Monte Carlo simulation of hole transport in SiGe alloys

por Soares, Caroline dos Santos

Publicado em 2021

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Artigo

14

3-D TCAD Monte Carlo device simulator : state-of-the-art FinFET simulation

por Furtado, Gabriela Firpo

Publicado em 2021

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Artigo

15

Analysis of total ionizing dose effects on 0.13 µm technology-temperature-compensated voltage references

por Both, Thiago Hanna

Publicado em 2013

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Artigo

16

Probabilistic approach for yield analysis of dynamic logic circuits

por Brusamarello, Lucas

Publicado em 2008

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Artigo

17

A design methodology using the inversion coefficient for low-voltage low-power CMOS voltage references

por Colombo, Dalton Martini

Publicado em 2011

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Artigo

18

Using bulk built-in current sensors to detect soft errors

por Henes Neto, Egas

Publicado em 2006

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